弯曲纳米线的标准，KAUST的一项研究表明，排列银纳米线的新方法使它们更耐用。这些纳米线形成灵活、透明的导电层，可用于改进的太阳能电池、应变传感器和下一代手机。将纳米技术应用于电子设备需要对单个微小部件进行严格的测试，以确保它们经得起使用。银纳米线作为连接器显示出巨大的潜力，它可以被布置在柔性、近乎透明的网格中，用于触摸屏或太阳能电池。

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但目前还不清楚它们将如何应对弯曲和携带电流带来的长期压力。测试大样本纳米粒子的体积特性很容易，但并不完全具有启示性。然而，采用透射电镜(TEM)可以检测单个纳米粒子。博士生尼廷·巴特拉和他的导师佩德罗·达·科斯塔走在了TEM新技术发展的最前沿，他们能够详细研究单个银纳米线。其主要研究是为TEM设计和制造样品平台原型(或芯片)，能够以无与伦比的空间分辨率表征和操纵纳米材料。

为了改进昂贵的商用芯片，这些芯片含有一种非常脆弱的膜来支持纳米颗粒，Batra和Da Costa在纳米制造核心Labat KAUST的Ahad Syed的帮助下，现在已经提交了他们自己的专利，这种芯片不需要膜就可以使用。研究人员将银纳米线从铂电极上悬浮在定制的TEM芯片上，施加一系列电压，直到纳米线因电流加热而失效。发现，当直线型纳米线达到一定的高电流密度时，在局部结构缺陷决定的点上容易断裂。

当纳米线从一开始就弯曲时，可以看到更有趣的行为。这些样品往往会在高压下弯曲而不是折断，并且显示出一种自愈的能力，因为它们通过电线外部的碳涂层保持在一起。一些纳米线甚至在失败之前就显示出共振振动，比如吉他弦上的谐波。许多设备预计会被终端用户反复弯曲和扭曲，这意味着将银纳米线的电响应研究局限于直线结构是不现实的，研究结果表明，使用弯曲的纳米线而不是笔直的纳米线。

可以将此类器件的故障率降到最低，自愈能力可以有效地延缓电路故障。许多一维金属纳米结构被提出作为下一代电子器件的互连线。一般来说，关于电荷输运特性的研究，考虑了具有本质上直结构的纳米线(或纳米管)中的低电流密度区域。在这种情况下，直接观察相互连接纳米丝电气故障是罕见的，特别是对于最初弯曲的结构。研究采用原位透射电镜分析了悬浮银纳米线在电流密度增大时的电响应和结构响应。

在低偏置率下，最初直纳米线在击穿前表现出细小的行为，伴随着电迁移和逐渐缩颈的发生。相比之下，这些最初形状弯曲的纳米线表现出一系列混合的反应，包括弦状共振和结构重排。值得注意的是，有人指出，改组并不一定会损害这些互联体的运输功能。因此，最初弯曲的纳米线可以延迟连接器在意外电流冲击下的灾难性故障，从而为未来纳米电子设备带来更高的弹性。博科园｜研究/来自：阿卜杜拉国王科技大学 | 参考期刊《Nanoscale》

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